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摘要
本发明涉及石墨烯光探测器领域,本发明器件从下到上依次为衬底、金属层、绝缘层、P掺杂石墨烯层、介质层及N掺杂石墨烯层,在金属层加上栅极电压;绝缘层上具有源极电极、漏极电极、第一电极,其中源极电极和漏极电极分别位于第一石墨烯层的两侧,且均与第一石墨烯层相连接;第一电极和第二电极分别位于第二石墨烯层的两侧,且第一电极与第二石墨烯层相连接;P掺杂石墨烯层、介质层及N掺杂石墨烯层构成PIN结构;第一石墨烯层、源极电极、漏极电极、绝缘层及金属层构成一个场效应晶体管。本发明利用石墨烯材料做成场效应晶体管结构与PIN结构相复合的探测器,实现紫外‑到红外宽波段高响应快速探测。
法律状态
法律状态公告日 | 20180814 |
法律状态 | 授权 |
法律状态信息 | 授权 |
法律状态公告日 | 20170623 |
法律状态 | 实质审查的生效 |
法律状态信息 | 实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/09 申请日:20170123 |
法律状态公告日 | 20170531 |
法律状态 | 公开 |
法律状态信息 | 公开 |
权利要求
权利要求数量(10)
独立权利要求数量(2)
1.一种费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,从下到上依次为衬底、 金属层、绝缘层、第一石墨烯层、介质层及第二石墨烯层;绝缘层上具有源极电极、漏极电极 及第一电极,其中源极电极和漏极电极均与第一石墨烯层相连接,第一电极与第二石墨烯 层相连接;其中第一石墨烯层和第二石墨烯层中任意一个为P掺杂,另一个为N掺杂,第一石 墨烯层、介质层及第二石墨烯层构成PIN结构;第一石墨烯层、源极电极、漏极电极、绝缘层 及金属层构成一个场效应晶体管。
2.根据权利要求1所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,所述 金属层为Cu、Au、Al、Ni、NiCr或Ag,且金属层的厚度为100-1000 nm。
3.根据权利要求1所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,所述 绝缘层为SiO 2、Si 3N 4、MnO 2或MgO,绝缘层的厚度为100-1000 nm。
4.根据权利要求1所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,所述 介质层为Si 3N 4 、MgO、SiO 2或未掺杂的石墨烯。
5.根据权利要求1或4所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,所 述介质层的厚度为1-500 nm。
6.根据权利要求1所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,所述 绝缘层上还具有作为备用的第二电极。
7.一种费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器的制备方法,其特征在于,包括以下步 骤:
S1、在衬底表面沉积金属层;
S2、在金属层表面生长绝缘层;
S3、在绝缘层表面沉积一层金属电极层,光刻金属电极层形成源极电极、漏极电极、第 一电极及第二电极;
S4、转移一层石墨烯至绝缘层表面形成第一石墨烯层,第一石墨烯层分别与源极电极 和漏极电极相连接,并对第一石墨烯层进行掺杂;
S5、在第一石墨烯层表面生长介质层;
S6、转移一层石墨烯至介质层表面形成第二石墨烯层,第二石墨烯层与第一电极相连 接,并对第二石墨烯层进行掺杂;
S7、刻蚀掉器件表面多余的石墨烯,完成器件的制备。
8.根据权利要求7所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器的制备方法,其特征 在于,所述步骤S4中对第一石墨烯层进行P型掺杂,步骤S6中对第二石墨烯层进行N型掺杂; 或者步骤S4中对第一石墨烯层进行N型掺杂,步骤S6中对第二石墨烯层进行P型掺杂。
9.根据权利要求8所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器的制备方法,其特征 在于,所述P型掺杂采用旋涂Au和甲苯混合溶液的方法对石墨烯层进行掺杂。
10.根据权利要求8所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器的制备方法,其特 征在于,所述N型掺杂采用滴涂联氨溶液或旋涂PEI溶液的方法对石墨烯层进行掺杂。
1.一种费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,从下到上依次为衬底、金属层、绝缘层、第一石墨烯层、介质层及第二石墨烯层;绝缘层上具有源极电极、漏极电极及第一电极,其中源极电极和漏极电极均与第一石墨烯层相连接,第一电极与第二石墨烯层相连接;其中第一石墨烯层和第二石墨烯层中任意一个为P掺杂,另一个为N掺杂,第一石墨烯层、介质层及第二石墨烯层构成PIN结构;第一石墨烯层、源极电极、漏极电极、绝缘层及金属层构成一个场效应晶体管。
2.根据权利要求1所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,所述金属层为Cu、Au、Al、Ni、NiCr或Ag,且金属层的厚度为100-1000 nm。
3.根据权利要求1所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,所述绝缘层为SiO2、Si3N4、MnO2或MgO,绝缘层的厚度为100-1000 nm。
4.根据权利要求1所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,所述介质层为Si3N4 、MgO、SiO2或未掺杂的石墨烯。
5.根据权利要求1或4所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,所述介质层的厚度为1-500 nm。
6.根据权利要求1所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,其特征在于,所述绝缘层上还具有作为备用的第二电极。
7.一种费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、在衬底表面沉积金属层;
S2、在金属层表面生长绝缘层;
S3、在绝缘层表面沉积一层金属电极层,光刻金属电极层形成源极电极、漏极电极、第一电极及第二电极;
S4、转移一层石墨烯至绝缘层表面形成第一石墨烯层,第一石墨烯层分别与源极电极和漏极电极相连接,并对第一石墨烯层进行掺杂;
S5、在第一石墨烯层表面生长介质层;
S6、转移一层石墨烯至介质层表面形成第二石墨烯层,第二石墨烯层与第一电极相连接,并对第二石墨烯层进行掺杂;
S7、刻蚀掉器件表面多余的石墨烯,完成器件的制备。
8.根据权利要求7所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器的制备方法,其特征在于,所述步骤S4中对第一石墨烯层进行P型掺杂,步骤S6中对第二石墨烯层进行N型掺杂;或者步骤S4中对第一石墨烯层进行N型掺杂,步骤S6中对第二石墨烯层进行P型掺杂。
9.根据权利要求8所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器的制备方法,其特征在于,所述P型掺杂采用旋涂Au和甲苯混合溶液的方法对石墨烯层进行掺杂。
10.根据权利要求8所述的费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器的制备方法,其特征在于,所述N型掺杂采用滴涂联氨溶液或旋涂PEI溶液的方法对石墨烯层进行掺杂。
说明书
本发明涉及石墨烯光探测器领域,具体涉及一种费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器及其制备方法。
石墨烯(Grahpene)是由单层碳原子紧密堆积成二维蜂窝状晶格结构的一种碳质新材料,其具有优异的机械、电学、热学及光学性能,自2004年Novoselov和Geim的团队用机械剥离法制备出室温存在的单层石墨烯以来,其已逐渐成为研究的热点。在目前已知的材料中,石墨烯无疑是最薄的,单层石墨烯厚度仅为 0.3 纳米(一个碳原子厚度),但它也同时是最坚硬的纳米材料。石墨烯可吸收2.3 %的白光,远高于碳的其他同素异形体。石墨烯在常温下即可观察霍尔效应。石墨烯是一种半金属零带隙材料,这使得它可以通过控制栅极来调节石墨烯的传导率,而且能使得它不可能在低于一定限度的条件下关闭,开启禁带的几种方法已经提出并论证。
石墨烯光探测器大致分为金属石墨烯接触式光探测器,等离子体共振型光探测器,量子点石墨烯混合光探测器,石墨烯异质结型光探测器等等。2009年,Fengnian Xia、Thomas Mueller等人利用机械剥离的石墨烯做出了金属石墨烯接触式光探测器,也是第一个石墨烯光电探测器,它的出现引起了广泛的关注。不足是光响应只有0.5mA/W。2010年Echtermeyer研究了不同纳米结构对光电响应的影响,发现改变纳米结构尺寸可以调节不同波长的光吸收,从而基于石墨烯制备出等离子体共振型光探测器,可惜其光响应率并不高。2012年,Gerasimos Konstantatos提出了将量子点和石墨烯混合,从而制备出量子点石墨烯混合光探测器,该器件响应度很高,不过存在暗电流太大、响应速度慢、响应率低等缺点。
本发明的目的在于针对现有技术的不足,提供一种费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器及其制备方法,该费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器及其制备方法可以解决石墨烯作为光探测器材料对光的吸收率低、响应速度慢的问题。
为达到上述要求,本发明采取的技术方案是:提供一种费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,从下到上依次为衬底、金属层、绝缘层、第一石墨烯层、介质层及第二石墨烯层;绝缘层上具有源极电极、漏极电极及第一电极,其中源极电极和漏极电极均与第一石墨烯层相连接,第一电极与第二石墨烯层相连接;其中第一石墨烯层和第二石墨烯层中任意一个为P掺杂,另一个为N掺杂,第一石墨烯层、介质层及第二石墨烯层构成PIN结构;第一石墨烯层、源极电极、漏极电极、绝缘层及金属层构成一个场效应晶体管。
提供一种费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器的制备方法,包括以下步骤:
S1、在衬底表面沉积金属层;
S2、在金属层表面生长绝缘层;
S3、在绝缘层表面沉积一层金属电极层,光刻金属电极层形成源极电极、漏极电极、第一电极及第二电极;
S4、转移一层石墨烯至绝缘层表面形成第一石墨烯层,第一石墨烯层分别与源极电极和漏极电极相连接,并对第一石墨烯层进行掺杂;
S5、在第一石墨烯层表面生长介质层;
S6、转移一层石墨烯至介质层表面形成第二石墨烯层,第二石墨烯层与第一电极相连接,并对第二石墨烯层进行掺杂;
S7、刻蚀掉器件表面多余的石墨烯,完成器件的制备
该费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器及其制备方法具有的优点如下:
(1)在石墨烯异质结的基础上,在P掺杂石墨烯和N掺杂石墨烯中间加入一层介质层作I层,形成PIN型结构,可以有效降低器件的暗电流,提高器件信噪比,提高本器件作为石墨烯光探测器的响应率和响应速度;
(2)金属层和绝缘层形成一个谐振腔,使光在腔内不断反射,从而起到提高光响应率的目的,而且谐振腔高度的不同对应着不同的吸收波长;
(3)第一石墨烯层、源极电极、漏极电极、绝缘层及金属层构成一个场效应晶体管,通过在金属层上加栅极电压可以调节第一石墨烯层的费米能级,从而得到第一石墨烯层和第二石墨烯层之间变化的费米能级差,有效增强对不同探测波段的响应率。
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,在这些附图中使用相同的参考标号来表示相同或相似的部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1为本申请器件的剖面示意图;
图2为本申请器件的平面示意图;
图3为本申请方法的流程示意图;
图4为用SCS4200半导体测试仪测试的器件在632nm的光照变化下的电流变化图。
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,以下结合附图及具体实施例,对本申请作进一步地详细说明。
为简单起见,以下描述中省略了本领域技术人员公知的某些技术特征。
根据本申请的一个实施例,提供一种费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器,如图1、2所示,从下到上依次为衬底1、金属层2、绝缘层3、第一石墨烯层5、介质层6及第二石墨烯层7,使用时在金属层2加上栅极电压;绝缘层3上具有源极电极4a、漏极电极4b及第一电极4c,一般一次性可以完成4个电极的制作,除了源极电极4a、漏极电极4b和第一电极4c之外的第二电极4d,作为备用电极;其中源极电极4a和漏极电极4b分别位于第一石墨烯层5的两侧,且均与第一石墨烯层5相连接;第一电极4c和第二电极4d分别位于第二石墨烯层7的两侧,且第一电极4c与第二石墨烯层7相连接;其中第一石墨烯层5为P掺杂,第二石墨烯层7为N掺杂,第一石墨烯层5、介质层6及第二石墨烯层7构成PIN结构;第一石墨烯层5、源极电极4a、漏极电极4b、绝缘层3及金属层2构成一个场效应晶体管。
进一步的,金属层2为Cu、Au、Al、Ni、NiCr或Ag,且金属层2的厚度为100-1000 nm。
进一步的,绝缘层3为SiO2、Si3N4、MnO2或MgO,绝缘层3的厚度为100-1000 nm。
进一步的,介质层6为Si3N4 、MgO、SiO2或未掺杂的石墨烯,介质层6的厚度为1-500nm。
一种费米能级可调的PIN结构石墨烯光探测器的制备方法,如图3所示,包括以下步骤:
S1、清洗高掺杂的硅衬底1并吹干,在硅衬底1表面沉积一层300nm厚的Cu薄膜作为场效应晶体管栅极及整个器件的金属层2;
S2、以金属层2为基底,用PECVD的方法在上面生长一层300nm厚的SiO2作为场效应晶体管的绝缘层3;
S3、在绝缘层3表面沉积一层金属电极层,光刻金属电极层形成源极电极4a、漏极电极4b、第一电极4c及第二电极4d;
S4、转移一层石墨烯至绝缘层表面形成第一石墨烯层5,第一石墨烯层5分别与源极电极4a和漏极电极4b相连接,并用旋涂Au和甲苯混合溶液的方法对第一石墨烯层5进行P型掺杂;
S5、在第一石墨烯层5表面生长介质层6;
S6、转移一层石墨烯至介质层表面形成第二石墨烯层7,第二石墨烯层7与第一电极4c相连接,并采用滴涂联氨溶液或旋涂PEI溶液的方法对第二石墨烯层7进行N型掺杂;
S7、刻蚀掉器件表面多余的石墨烯,完成器件的制备。
采用632nm 激光器作为光源进行探测器性能测试。设置栅极电压为-1V,源极与漏极(接地)之间电压为0.5V,采用S[1] 半导体测试仪测试漏极电极4b与第一电极4c之间的电学输出信号,测试结果如图4所示。可以看出该结构探测器在632nm光源斩波后照射下有显著的电学响应信号输出,响应电流约10μA,响应速度低于1ms,通过调节衬底栅极电压可以调节器件的响应电流大小和器件响应的优化波段。因此通过本发明中场效应晶体管与PIN结构相复合的探测器结构获得了高响应率、高响应速度的性能。
以上所述实施例仅表示本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能理解为对本发明范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明保护范围。因此本发明的保护范围应该以所述权利要求为准。
原交底书中记载的是“SCS4200”,请确认。
价值度评估
技术价值
经济价值
法律价值
0 0 058.0分
0 50 75 100专利价值度是通过科学的评估模
型对专利价值进行量化的结果,
基于专利大数据针对专利总体特
征指标利用计算机自动化技术对
待评估专利进行高效、智能化的
分析,从技术、经济和法律价值
三个层面构建专利价值评估体
系,可以有效提升专利价值评估
的质量和效率。
总评:58.0分
该专利价值中等 (仅供参考)
技术价值 32.0
该指标主要从专利申请的著录信息、法律事件等内容中挖掘其技术价值,专利类型、独立权利要求数量、无效请求次数等内容均可反映出专利的技术性价值。 技术创新是专利申请的核心,若您需要进行技术借鉴或寻找可合作的项目,推荐您重点关注该指标。
部分指标包括:
授权周期(发明)
18 个月独立权利要求数量
2 个从属权利要求数量
8 个说明书页数
3 页实施例个数
1 个发明人数量
5 个被引用次数
0 次引用文献数量
0 个优先权个数
0 个技术分类数量
4 个无效请求次数
0 个分案子案个数
0 个同族专利数
0 个专利获奖情况
无保密专利的解密
否经济价值 7.0
该指标主要指示了专利技术在商品化、产业化及市场化过程中可能带来的预期利益。 专利技术只有转化成生产力才能体现其经济价值,专利技术的许可、转让、质押次数等指标均是其经济价值的表征。 因此,若您希望找到行业内的运用广泛的热点专利技术及侵权诉讼中的涉案专利,推荐您重点关注该指标。
部分指标包括:
申请人数量
1申请人类型
院校许可备案
0 次权利质押
0 次权利转移
0 个海关备案
否法律价值 19.0
该指标主要从专利权的稳定性角度评议其价值。专利权是一种垄断权,但其在法律保护的期间和范围内才有效。 专利权的存续时间、当前的法律状态可反映出其法律价值。故而,若您准备找寻权属稳定且专利权人非常重视的专利技术,推荐您关注该指标。
部分指标包括:
存活期/维持时间
8法律状态
有权-审定授权